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产品概述
SYN5306型晶体测试仪是由西安同步电子科技有限公司按照IEC 60444标准自主研发设计生产的一款用于检测晶体电气参数和性能的精密仪器，采用π型网络零相位法和自动网络分析技术实现自动化测量，测量频率范围高达20kHz～200MHz，测量参数包括串联谐振频率（Fs），负载谐振频率（FL），串联谐振电阻（Rs），负载谐振电阻（RL），动态电感（L1），负载电容（CL），静态电容（C0），动态电容（C1），频率牵引力（Ts）和品质因数（Q）等，负载电容在1pF-500pF范围内任意编程设置，并内置10000mA电池实现移动作业或户外操作，广泛应用于邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业对于晶体的验证或筛选。
关键词：晶体网络分析仪，晶体阻抗测试仪，晶体网络测试仪
产品功能
1) 频率范围高达20kHz～200MHz；
2) 测量参数包括Fs，FL，Rs，RL，L1，CL，C0，C1，Ts和Q；
3) 合格不合格判断（PASS/FAIL）；
4) 内置10000mA电池方便移动作业或户外操作；
5) 多种谐振器测试工装，满足常规测试应用。
产品特点
a) 高度集成，精度高；
b) 稳定性好，性能可靠；
c) 4.3英寸触摸屏设计，操作简单。
典型应用
1) 在晶体制造业中，用于批量检测出厂晶体的参数是否符合规格；
2) 电路设计与调试中，用于验证所选晶体是否与电路匹配；
3) 通信设备、汽车电子设备、医疗电子、安防电子、工业自动化设备等生产商，对于提供基准频率的晶体谐振器进行验证或筛选。
技术指标
频率范围 | 20kHz～200MHz（可选其它频点） |
测试参数 | 串联谐振频率（Fs） 负载谐振频率（FL） 串联谐振电阻（Rs） 负载谐振电阻（RL） 动态电感（L1） 负载电容（CL） 静态电容（C0） 动态电容（C1） 频率牵引力（Ts） 品质因数（Q） 合格不合格判断（PASS/FAIL） |
串联谐振频率Fs | ±1000ppm（默认±400ppm） 测量精度：±5ppm |
负载谐振频率FL | ±5ppm+时基误差+0.5pF*频率牵引力 Ts |
串联谐振电阻Rs | 1Ω～1000Ω （2±10%*R KΩ） 10kΩ～300kΩ （2±10%*R KΩ） |
负载电容CL | 1pF～500pF |
时基误差 | ±1ppm |
测试座 | 1只高频100Ω网络测试座（贴片/直插） 1只低频1000kΩ表晶测试座（贴片/直插） 标配晶体夹具封装： SMD2112(2P) SMD3215(2P) SMD3225(4P) SMD5032(2P) SMD5032(4P） HC-49SMD(3L) SP-T2A-F 直插晶振封装（1.5/1.0/0.5孔直径） 只要封装尺寸符合均可测试 |
校准件 | 开路校准件/0Ω校准件/50Ω校准件/100kΩ校准件 |
数据通信 | USB通信/DB9串口通信/RJ45网络通信，可选GPIB套件 |
上位机软件 | 远程控制和读取测量结果，以及配置保存功能 |
环境特性 | 工作温度0℃～＋50℃，存储温度-30℃～＋70℃，相对湿度≤90%（40℃） |
供电电源 | 交流220V±10%， 50Hz±5%，功率小于15W，内置10000mAH电池 |
机箱尺寸 | 便携式机箱320mm（宽）x280（深）x140mm（高） |
选件说明
选件 | 内容 |
01 | 频率范围：20kHz-200kHz 测试座：1只低频1000kΩ表晶测试座（贴片/直插） |
02 | 频率范围：1MHz-60MHz 测试座：1只高频100Ω网络测试座（贴片/直插） |
03 | 频率范围：20kHz-100MHz 测试座：1只高频100Ω网络测试座（贴片/直插），1只低频1000kΩ表晶测试座（贴片/直插） |
04 | 可定制不同晶体封装的适配套件 |
05 | 定制类似250B功能参数 |
06 | 可选GPIB套件通信 |
产品分类：时频测试仪